Nanometrologia
La nanometrologia è un sottocampo della metrologia riguardante la scienza della misurazione a livello di nanoscala. La nanometrologia ha un ruolo cruciale nella produzione di nanomateriali e dispositivi con un alto grado di precisione e affidabilità nella nanofabbricazione.
Una sfida in questo campo è rappresentata dallo sviluppo e dalla creazione di nuove tecniche di misurazione e standard che soddisfino le esigenze di fabbricazione di prossima generazione, basate sulla tecnologia e sui materiali in scala nanometrica. La necessità di misurazione e caratterizzazione di nuove strutture campione e caratteristiche superano di gran lunga le capacità della scienza della misurazione attuale. Per quanto concerne i settori emergenti dell'industria nanotecnologica statunitense, i progressi attesi richiederanno una metrologia rivoluzionaria con una maggiore risoluzione e precisione di quella prevista precedentemente. [2]
Note[modifica | modifica wikitesto]
- ^ NIST Manufacturing Engineering (2008).NIST Programs of the Manufacturing Engineering Laboratory. Marzo 2008.
- ^ NIST 2008, p.31